关于征集专项企业科研项目合作意向教授团队的通知
各相关卓越培养项目教授团队：
中微半导体（上海）有限公司是浙大国卓院“工程硕博士培养改革专项”合作企业之一。为推动校企双方在有组织科研与卓越工程人才培养等方面的深入合作，现面向相关卓越培养项目教授团队征集合作意向。
【课题名称一】工业高性能时序数据库开发
课题简介：本课题旨在开发一套用于工业嵌入式控制器场景的高性能时序数据库方案，用于保存控制器运行过程数据。
开发目标：能够解决工业场景下高速数据的大数据星写入、高速读取，并实现存储空间自管理与低CPU负载。方案还需支持数据采集配置的变更和数据文件迁移等灵活性需求。
预计项目周期：1年
指标要求：
序号 | 参数 | 指标 |
1 | 峰值写入速度 | 每秒可写入约1000000条数据(基于5000个数据点，5ms写入一次) |
2 | 关键查询性能 | 小范围实时查询（查询过去3秒数据）：耗时<0.1秒；大范围历史查询(查询10天内任意1小时数据)：耗时<30秒 |
3 | 并发访问能力 | 在持续写入数据的同时，支持至少5个客户端并发读取数据。最大并发读取时，写入速度仍需满足需求，读取速度最多容许慢2倍 |
4 | 安全性与稳定性 | 系统影响：正常运行时，不影响控制器实时任务的实时性； 数据安全：异常崩溃或断电时，保证最多只丢失3秒内写入的数据 |
【课题名称二】新型在线晶圆温度分布监测系统
课题简介：本课题旨在开发一套用于MOCVD设备的晶圆表面温度分布的在线监测系统，以实现透过石英观察窗在特定温度段下的晶圆温场分布的非接触测量。
方向一：视觉法测温：短波红外线扫相机
方向二：光谱法测温：短波红外光谱仪
开发目标：
测量目标为GaN on Si wafer，测量温度段在生长MQW阶段的600-800℃
空间分辨率0.3mm，可识别硅片0.5℃微小温差
测量波段：通过定制滤光片严格限定探测波段
连续运行稳定性：48小时信号漂移≤±1%
软件开发：可视化界面（2D/3D预览），数据分析处理
预计项目周期：1年
指标要求：
序号 | 参数 | 指标 |
1 | 空间分辨率 | 0.3mm（全视场覆盖 12英寸硅片） |
2 | 测温范围 | 600-800℃ |
3 | 测温精度 | ±1℃ |
4 | 采集频率 | 20kHz |
5 | 重复性误差 | ±0.5℃ |
6 | 波长范围 | 900-1300nm（通过滤光片实现不同中心波长的测量） |
请有合作意向的相关教授团队填写附件一《专项企业科研项目合作意向征集表》，并于2025年10月28日（星期二）中午12:00前将电子版发送至邮箱yiyuanchen@zju.edu.cn。我们将视申报情况组织校企科研对接。
如有相关问题请联系工程师学院对外合作与管理办公室陈老师：0571-88285212。
工程师学院
2025年10月21日
附件1 专项企业科研项目合作意向征集表
教师/团队名称 |
| 职称 |
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所在专业学院 |
| 所属项目制 |
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意向对接课题 | 【课题一】工业高性能时序数据库开发/ 【课题二】新型在线晶圆温度分布监测系统 | ||
团队简介 （研究基础等， 200字以内） |
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对接联系人及电话 |
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备注 |
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